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Xigo Nanotools 快速濕式比表面積分析儀

Xigo Nanotools是以核磁共振技術為基礎,特別針對 奈米研磨、分散、界面活性劑添加等各種製程監控、研發、產品QC所設計開發。 多國專利量測 濕式比表面積,有助於研磨分散製程的快速調配。 傳統上,濕式研磨分散製程要了解比表面積,都還是要來回往復將產品乾燥,以乾式比表面積法量測。乾式量測比表面積,雖然可得知一般所公認比表面積值,卻失去原本添加界面活性劑、不同溶劑配方等真正製程所需的關鍵資訊。 Xigo Nanotools可在液態與高黏稠膠態下量測,且一組量測時間從短的數十秒到至多五分鐘,將對研磨分散提供關鍵、有效、且快速的判讀關鍵數據。

基於使用核磁共振(NMR)原理,與傳統的比表面積測量技術相比有多項獨特的優勢....

> 懸浮液狀下直接測量

>無須樣品前置作業

>無須稀釋即可測量

>測量時間小於5分鐘

>輕巧式設計 方便移動
 

Acron比表面積分析儀幾乎可以測量所有的懸浮液樣品,針對於任何大小、形狀的固體或液體顆粒。
應用:

>奈米科技

>電子產品

>研磨 &分散

>製藥方面

>化妝品材料 等等