量測服務

SEM 量測

SEM 掃描電子顯微鏡
SEM 掃描電子顯微鏡
• Resolution: 5 nm
• SE image at 30 KV
• Electron Gun: Tungsten (W) Fil
• Accelerating Voltage: 1–30 KV
• Magnification: up to 200,000×
• Detector: SE / BSE
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量測業務 盧先生
手機:0900-616-157
信箱:Lucas.Lu@fstintl.com.tw
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