高能量掃描扇形磁場質譜分析系統｜主要規格
- 分析方法：高能量掃描扇形磁場
- 區域劃分：一般用途 / ATEX 1 區 / 1 類 2 級（Z-清除）/ 1 類 Div 1（X-清除）
- 動態範圍：法拉第：10 ppm – 100%（依應用）／雙法拉第＋SEM：10 ppb – 100%（依應用）
- 分析時間：1–30 秒（依應用）
- 分析精度：約 0.1%（24 小時內 1–100% 濃度之相對標準偏差）
- 校準間隔：3–12 個月（依應用）
- 尺寸：0.97 m（寬） × 0.72 m（深） × 1.48 m（高），約 240 kg
- 電源需求：115 VAC（±5 VAC）或 230 VAC（±10 VAC），2.0–2.5 KVA
- 環境需求：12°C – 40°C
- 樣品氣體輸入口：32 – 128 RMS
- 校正氣體輸入口：標準 6 點，可擴充至 24 點
- 通訊介面：4 組通訊埠（MODBUS：RS232 / RS422 / RS485）與／或 OPC