產品介紹

熱膨脹分析儀 DIL, TMA

OPT-DIL光學法熱膨脹儀 |非接觸式高精度熱膨脹測試設備

Product details

光學法熱膨脹儀 DIL L74|非接觸式高精度熱膨脹測試設備

光學法熱膨脹儀 DIL L74 採用非接觸式光學量測技術,特別適合玻璃、陶瓷、聚合物等對接觸力敏感的材料。 儀器支援高溫、低溫與多氣氛環境,可量測材料的熱膨脹係數(CTE)、燒結行為、變形過程與玻璃化轉變溫度等關鍵熱性質。

非接觸式量測避免了推桿與樣品接觸所造成的干擾,適用於脆性、柔性、不規則形狀、熔融樣品等傳統 DIL 難以處理的材料。


產品簡介

DIL L74 光學法熱膨脹儀搭載高解析度光學追蹤系統,可直接觀察樣品邊界的移動或體積變化,並同步記錄影像。 此設計非常適合需要分析變形、收縮、燒結曲線的材料研究與學術用途。


主要特色

  • 非接觸式量測:避免施加壓力造成誤差,適合脆弱與軟性材料。
  • 高溫測試能力:溫度範圍 -150°C ~ 2000°C,跨足玻璃與陶瓷高溫研究。
  • 多氣氛環境:可搭配惰性、氧化、還原、真空等環境進行量測。
  • 即時影像記錄:提供樣品變形過程的即時錄影與圖片,不只看數據,也能看影像。

應用範圍

  • 玻璃材料:分析 CTE、玻璃化轉變、軟化點、燒結行為。
  • 陶瓷材料:觀察燒結曲線、收縮過程與變形行為。
  • 聚合物:量測熱膨脹、變形、熱性質穩定性等。

技術規格

項目 規格
溫度範圍 -150°C ~ 2000°C
測量方式 非接觸式光學邊界追蹤
樣品類型 固體、熔體、不規則樣品
環境控制 多種氣氛(惰性、氧化、還原、真空)
影像功能 支援即時錄影與影像擷取紀錄

光學法 DIL 與接觸式 DIL 比較

比較項目 光學法熱膨脹儀 接觸式熱膨脹儀
測量方式 非接觸式光學追蹤 推桿直接接觸測量
樣品受力 無機械壓力,無接觸干擾 有機械壓力,對脆弱材料可能造成影響
適用樣品 軟性、脆性、不規則、熔融樣品 一般固體、尺寸穩定樣品
解析度 高,可觀察邊界微小變化 中高,視感測器設計而定
可量測項目 燒結行為、變形、體積收縮、熱膨脹 CTE、玻璃轉化點、軟化點
即時觀察能力 可錄製影像 無影像紀錄
代表應用 高階陶瓷、玻璃研究、變形分析 材料 CTE 測量、品管與工程應用

影片介紹

影片 1(YouTube)

影片 2(YouTube)


 
CONTACT
業務聯絡|郭文龍
FST International|光學法熱膨脹儀 / 材料熱分析諮詢

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