光學法熱膨脹儀 DIL L74|非接觸式高精度熱膨脹測試設備
光學法熱膨脹儀 DIL L74 採用非接觸式光學量測技術,特別適合玻璃、陶瓷、聚合物等對接觸力敏感的材料。 儀器支援高溫、低溫與多氣氛環境,可量測材料的熱膨脹係數(CTE)、燒結行為、變形過程與玻璃化轉變溫度等關鍵熱性質。
非接觸式量測避免了推桿與樣品接觸所造成的干擾,適用於脆性、柔性、不規則形狀、熔融樣品等傳統 DIL 難以處理的材料。
產品簡介
DIL L74 光學法熱膨脹儀搭載高解析度光學追蹤系統,可直接觀察樣品邊界的移動或體積變化,並同步記錄影像。 此設計非常適合需要分析變形、收縮、燒結曲線的材料研究與學術用途。
主要特色
- 非接觸式量測:避免施加壓力造成誤差,適合脆弱與軟性材料。
- 高溫測試能力:溫度範圍 -150°C ~ 2000°C,跨足玻璃與陶瓷高溫研究。
- 多氣氛環境:可搭配惰性、氧化、還原、真空等環境進行量測。
- 即時影像記錄:提供樣品變形過程的即時錄影與圖片,不只看數據,也能看影像。
應用範圍
- 玻璃材料:分析 CTE、玻璃化轉變、軟化點、燒結行為。
- 陶瓷材料:觀察燒結曲線、收縮過程與變形行為。
- 聚合物:量測熱膨脹、變形、熱性質穩定性等。
技術規格
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 溫度範圍 | -150°C ~ 2000°C |
| 測量方式 | 非接觸式光學邊界追蹤 |
| 樣品類型 | 固體、熔體、不規則樣品 |
| 環境控制 | 多種氣氛(惰性、氧化、還原、真空) |
| 影像功能 | 支援即時錄影與影像擷取紀錄 |
光學法 DIL 與接觸式 DIL 比較
| 比較項目 | 光學法熱膨脹儀 | 接觸式熱膨脹儀 |
|---|---|---|
| 測量方式 | 非接觸式光學追蹤 | 推桿直接接觸測量 |
| 樣品受力 | 無機械壓力,無接觸干擾 | 有機械壓力,對脆弱材料可能造成影響 |
| 適用樣品 | 軟性、脆性、不規則、熔融樣品 | 一般固體、尺寸穩定樣品 |
| 解析度 | 高,可觀察邊界微小變化 | 中高,視感測器設計而定 |
| 可量測項目 | 燒結行為、變形、體積收縮、熱膨脹 | CTE、玻璃轉化點、軟化點 |
| 即時觀察能力 | 可錄製影像 | 無影像紀錄 |
| 代表應用 | 高階陶瓷、玻璃研究、變形分析 | 材料 CTE 測量、品管與工程應用 |
影片介紹
CONTACT
業務聯絡|郭文龍
FST International|光學法熱膨脹儀 / 材料熱分析諮詢
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