質譜氣體分析系統 — 主要技術規格
- 分析方法：高能量掃描扇形磁場（Sector Field）
- 區域劃分：一般用途 / ATEX 1 區 / 1類2級（Z-清除）/ 1類 Div1（X-清除）
- 動態範圍：法拉第探測器：10 ppm – 100％（依應用而定）
- 動態範圍（雙法拉第 / SEM）：10 ppb – 100％（依應用而定）
- 分析時間：1 – 30 秒（視應用而定）
- 分析精度：一般 0.1％，RSD（24 小時）於 1–100％ 濃度範圍內
- 校準間隔：3 – 12 個月（依應用而定）
- 設備尺寸：0.97 m（寬） × 0.72 m（深） × 1.48 m（高），約 240 kg
- 電源需求：115 VAC（±5 VAC）或 230 VAC（±10 VAC），2.0–2.5 KVA
- 操作環境：12°C – 40°C
- 樣品氣體輸入口：32 – 128 RMS 可選
- 校正氣體輸入口：標準 6 點（可擴展至 24 點）
- 標準通訊：4 Port（MODBUS：RS232 / RS422 / RS485）與/或 OPC
- 應用：適用於環境分析、 Flare 廢氣燃燒塔監測，水中VOC分析、可支援多管線即時分析