ZLS Z3000－奈米粒徑 & Zeta電位分析儀

奈米粒徑／Zeta Potential 量測系統主要規格

主要規格

• 量測粒徑範圍：0.3 nm ~ 10 μm
• Zeta 量測範圍：± 500 mV（理論值）
• 量測原理：動態光散射（90° DLS, Dynamic Laser Scattering）
• 測量時間：5 ~ 20 分鐘（依樣品特性而定）
• 粒徑分析模式：Gaussian 與 Nicomp 模式
• 偵測器：PMT / APD
• 光強度調整：自動調整
• 溫度範圍：0°C ~ 90°C
• 樣品最大濃度：最高可達 40% v/v（依樣品而定）
• 樣品最小濃度：0.1 mg/mL
• 樣品類型：有機或水性樣品皆適用