CUBE-II 桌上型掃描電子顯微鏡（SEM）
CUBE-II 為高解析度桌上型掃描電子顯微鏡（SEM），兼具小型化設計與高效成像能力， 具備五軸樣品台、20 萬倍放大倍率與低真空模式，適用於材料、電子、生物與教學實驗等多領域觀察需求。
主要特色
- 五軸樣品台：支援 X/Y/Z/Tilt/Rotate，360° 自由觀察角度。
- 高放大倍率：提供 20× 至 200,000×，可呈現微奈米級細節。
- 自動化控制：具備 Auto Focus、Auto Exposure，操作簡單易上手。
- Low-vacuum 免導電塗膜模式：適用非導體樣品觀察。
- 快速影像擷取：搭配影像處理軟體，立即生成高品質影像。
- 15.6 吋觸控螢幕：一鍵操作，快速切換模式與放大倍率。
適用領域
- 材料科學：粉末、纖維、金屬微結構。
- 電子零件檢測：PCB、半導體、微小焊點。
- 生命科學：昆蟲、植物組織、微生物形貌。
- 教育研究：課程示範、基礎材料觀察。
技術規格
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 放大倍率 | 20× – 200,000× |
| 解析度 | 3.0 nm @ 30 kV |
| 最大樣品尺寸 | Ø 70 mm |
| 加速電壓 | 1 – 30 kV |
| 真空模式 | High / Low vacuum |
| 樣品台行程 | X / Y / Z / Tilt / Rotate 五軸 |
影片： CUBE-II SEM 示範影片