光學法熱膨脹儀
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光學法熱膨脹儀

產品名稱:光學熱膨脹儀 DIL L74

產品簡介
Linseis DIL L74 光學熱膨脹儀專為非接觸式測量設計,適用於需要避免樣品接觸壓力影響的材料測試。該儀器通過高精度光學系統進行變形和膨脹測量,特別適合脆弱、柔軟或非傳統形狀的樣品。


應用範圍

  • 測量線性熱膨脹係數 (CTE)、燒結行為、玻璃化轉變溫度等
  • 適用於玻璃、陶瓷及聚合物等材料


特色與應用

  • 測量精度高,無需施加機械壓力
  • 研究樣品在加熱過程中的體積變化和燒結行為


 
加熱顯微鏡的主要優點:
  • 非接觸式膨脹測量
  • 可測固體的CTE與熔體的體積變化
  • 可在多種環境下工作
  • 溫度範圍從-150°C到2000°C
  • 即時視頻和圖像錄製
  • 適用於CTE和光學顯微鏡的光學優化套件(單獨或組合)
 
 
 
業務聯絡:  郭文龍
Mobile: 0919-138-108
Mail:  Allen.kuo@fstintl.com.tw