因此，可以使用該測量裝置通過閃蒸法獨立確定熱導率以及測量電阻和塞貝克係數（從 LSR 平台獲知）。
優勢顯而易見：一體化設計既可以節省昂貴的實驗室空間，又可以節省雙爐、測量電子設備和其他設備的不必要成本。因此，LZT-Meter是研究和開發應用的理想解決方案，在這些應用中，重點不在於高樣品通量，而在於測量質量和成本效益。因為對於樣品的完整ZT表徵，單個盤形幾何形狀就完全足夠了。
組合測量的優點：
- 單個樣品的測量
- 沒有幾何錯誤
- 相同的化學計量
- 進一步的樣品製備沒有問題
- 相同的環境條件
- 溫度
- 濕度
- 氣氛
- 可以測量高電阻樣品的電阻率
- 可選的哈曼測量
- 相機選項
- 此外，LSR 平台的所有眾所周知的優點
- 一個紅外線爐（用於在非常高和非常低的加熱速率下進行精確的溫度控制）
- 用於測量低至 -100°C 的低溫爐
- 可測量高達 1100°C 的高溫爐
測量原理
Linseis LZT 允許使用與我們經過驗證的LSR-3平台相同的技術和功能進行熱電測量。可以在此處找到更多詳細信息。除了所示的方形樣品幾何形狀，所有測量當然也可以使用圓盤形樣品進行。
.png)
使用 LZT 表測量塞貝克係數
.png)
使用 LZT 表測量電阻率
.png)
使用 LZT 表的哈曼法
.png)
可用配件
用於圓盤形（標準）和矩形/圓柱形樣品的樣品架
雖然對於熱擴散率測量，使用集成激光器，需要盤形樣品架（直徑為 10 毫米、12.7 毫米或 25.4 毫米），但 LZT-Meter 也可僅用於測量塞貝克係數和電阻率，使用不同的其他樣品幾何形狀，如圓柱形樣品（高達 ø 6 毫米 x 23 毫米高度）或棒狀樣品（具有高達 5 毫米 x 5 毫米和 23 毫米高的食物印跡）。在後一種情況下，樣品的食物印跡面積理想情況下應小於或等於電極的表面積，以確保熱量和電流通過樣品的一維流動。
.png)
熱電偶和相機選項
標準熱電偶： 用於最高精度
護套熱電偶： 用於具有挑戰性的樣品
K/S/C 型熱電偶：
- 用於低溫測量的 K 型
- 用於高溫測量的 S 型
- 用於 Pt 中毒樣品的 C 型
.png)
相機選項
- 用於探頭距離測量的相機選項
- 允許最高精度的電阻率測量
- 包含軟件包
.png)
規格
- 只需一個集成設備即可完成完整的 ZT 表徵
- 具有成本效益和空間效率
- 高歐姆選項和可變定位熱電偶允許可靠的電阻率測量，即使對於最苛刻的樣品
- 可互換的爐子可在 -100°C 至 1100°C 的溫度範圍內進行測量
- 腿上的直接 ZT 測量（哈曼方法）和模塊（阻抗譜）
- 通過激光閃光法測量熱導率
- 提供高速紅外爐，可在測量過程中實現出色的溫度控制以及更高的樣品通量
- 提供範圍廣泛的熱電偶（溫度範圍、護罩、獨立式）
- 用於高精度電阻率測量的相機選項
| 模型 | LSR-3 部分 |
| 溫度範圍： | -100°C 至 500°C 室溫至 1100°C |
| 測量原理： | 塞貝克係數：靜態直流法/斜率法 電阻測量：四端法 |
| 氣氛： | 惰性、紅色、氧化、真空 |
| 樣品架： | 兩個電極之間的垂直定位 用於箔和薄膜的可選適配器 |
| 樣品尺寸（圓柱形或矩形）： | 2 至 5 毫米矩形，最大 23 毫米長 至 6 毫米直徑和最大。23 毫米長 |
| 圓形樣品尺寸（圓盤形）： | 10、12.7、25.4 毫米 |
| 探頭距離： | 4、6、8 毫米 |
| 水冷： | 必需的 |
| 測量範圍塞貝克係數： | 1 高達 2500 µV/K 精度 ±7% / 再現性 ±3% |
| 測量範圍 電導率： | 0,01 至 2*10 5 S/cm 精度 ±5-8*% / 再現性 ±3% |
| 當前來源： | 0 至 160 mA 的低漂移電流源 |
| 電極材料： | 鎳（-100 至 500°C）/鉑（-100 至 +1500°C） |
| 熱電偶： | K/S/C型 |
| 導熱係數 | |
| 脈衝源： | Nd:YAG 激光（25 焦耳） |
| 脈衝持續時間： | 0,01 最多 5 毫秒 |
| 檢測器： | InSb / MCT |
| 熱擴散率 | |
| 測量範圍： | 0,01 至 1000mm 2 /s |
| 添加在 | LSR-4 升級 |
| 直流哈曼法： | 熱電腿上的直接 ZT 測量 |
| 交流阻抗譜： | 熱電模塊上的直接 ZT 測量（TEG/Peltier 模塊） |
| 溫度範圍： | -100 至 +400°C RT 至 +400°C |
| 樣品架： | 用於絕熱測量條件的針觸點 |
| 樣本量： | 2 至 5 毫米矩形，最大 23 毫米長 至 6 毫米直徑和最大。23 mm 長 模塊最大 50mm x 50mm |
軟件
使價值具有可比性和可見性
除了所使用的硬件外，強大的、基於 Microsoft® Windows® 的 LINSEIS 熱分析軟件在熱分析實驗的準備、執行和評估方面發揮著最重要的作用。
通過該軟件包，Linseis 提供了一個全面的解決方案，用於對所有特定於設備的設置和控制功能進行編程，以及用於數據存儲和評估。該軟件包由我們的內部軟件專家和應用專家開發，並經過多年的測試和擴展。
LFA 屬性
- 精確的脈衝長度校正，“脈衝映射”
- 熱損失修正
- 2 層或 3 層系統的分析
- 測量多層系統的接觸電阻
- 用於選擇最佳評估模型的模型嚮導
- 比熱容的測定
- 支持圓柱形、方形和圓盤形樣品
- 提供高溫和低溫爐
- 無障礙可編程
- 適用於靈活和穩定薄膜的薄膜適配器
- 程序嚮導集成
- 塞貝克效應、電導率和 Harman-ZT 的測定
- 自動評估塞貝克係數和電導率
- 自動控製樣品接觸
- 創建自動測量程序
- 為 Seebeck 測量創建溫度曲線和溫度梯度
- 哈曼測量的自動評估（可選）
- 實時顯色
- 自動和手動縮放
- 可自由選擇的軸表示（例如溫度（x 軸）與 delta L（y 軸））
- 數學計算（例如一階和二階導數）
- 用於存檔所有測量和評估的數據庫
- 多任務處理（可以同時使用不同的程序）
- 多用戶選項（用戶帳戶）
- 曲線切割的縮放選項
- 任意數量的曲線可以相互疊加加載以進行比較
- 在線幫助菜單
- 曲線的自由標記
- 簡化的導出功能 (CTRL C)
- 測量數據的 EXCEL® 和 ASCII 導出
- 可以計算零曲線
- 統計趨勢評估（帶置信區間的平均值曲線）
- 數據的表格表達
應用
LSR 功能的應用示例：Tellurid
碲化物系列的典型熱電材料已在室溫至 200°C 的溫度範圍內進行了測試。您可以看到隨溫度變化的電阻率和塞貝克係數。
LFA 功能的應用示例：銅/鋁
本示例中使用純金屬銅和鋁來演示 Linseis 激光閃光設備的性能。將兩種材料的測量結果與文獻值進行比較。測量結果在給定文獻值的 2% 內變化；這證明了該儀器的卓越性能。
應用示例 LFA 功能：Pyroceram 9606
標準激光閃光參考材料 Pyroceram 9606。軍用 – 對雷達透明 加熱板和攪拌器的頂部。與金屬檯面不同，玻璃陶瓷易於清潔，對划痕、腐蝕和化學侵蝕具有很強的抵抗力。
應用示例 LFA 函數：各向同性石墨 (AIST)
該圖顯示了在 Linseis LFA 1000 上測量的熱擴散率值與在 AIST* Japan 上測量的值的比較。所使用的 AIST* 各向同性石墨的文獻值在 LFA 1000 上的測量結果變化不到 2%。
*日本國立先進工業科學技術研究所
外部應用
有序-無序轉變對納米結構熱電 Cu2ZnSnS4 塞貝克係數的影響（已發表的納米材料）
| 業務聯絡: 郭文龍 |
| Mobile: 0919-138-108 |
| Mail: Allen.kuo@fstintl.com.tw |
